光栅化可见性
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几何覆盖产生候选样本,深度比较筛选表面,模板测试按标签控制区域。三者位于同一条可见性链,但读取的数据和比较规则不同。
专题入口
| 关注环节 | 入口 |
|---|---|
| 样本覆盖与片元属性 | 光栅化与属性插值 |
| 设备深度与位置重建 | 深度缓冲与位置重建 |
| 深度拒绝与遮挡工作削减 | 基于深度的可见性优化 |
| 有限位宽的区域标签 | Stencil与对象遮罩 |
阅读路线
先从覆盖规则理解哪些样本有机会参与绘制,再确认深度的数值约定和比较方向。随后区分深度的生成与使用:深度预通道先建立不透明深度,提前拒绝和层级深度再利用已有深度减少后续工作。没有独立预通道时,先前绘制写入的深度也可以用于拒绝;各项策略的条件与成本由可见性优化专篇展开。
模板用于表达对象或区域的选择关系。选中遮罩、门户和局部效果从模板专篇进入,并结合深度测试的先后关系检查写入结果。
相关主题
- 空间变换:裁剪坐标、透视除法与屏幕位置。
- Shader接口与数据流:阶段输入输出和属性传递。
- 可见性与合成:对象级剔除与透明颜色合成的关系。
参考资料
各专篇列出对应机制的原始资料、版本与实际验证范围。