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光栅化可见性

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几何覆盖产生候选样本,深度比较筛选表面,模板测试按标签控制区域。三者位于同一条可见性链,但读取的数据和比较规则不同。

专题入口

关注环节入口
样本覆盖与片元属性光栅化与属性插值
设备深度与位置重建深度缓冲与位置重建
深度拒绝与遮挡工作削减基于深度的可见性优化
有限位宽的区域标签Stencil与对象遮罩

阅读路线

先从覆盖规则理解哪些样本有机会参与绘制,再确认深度的数值约定和比较方向。随后区分深度的生成与使用:深度预通道先建立不透明深度,提前拒绝和层级深度再利用已有深度减少后续工作。没有独立预通道时,先前绘制写入的深度也可以用于拒绝;各项策略的条件与成本由可见性优化专篇展开。

模板用于表达对象或区域的选择关系。选中遮罩、门户和局部效果从模板专篇进入,并结合深度测试的先后关系检查写入结果。

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参考资料

各专篇列出对应机制的原始资料、版本与实际验证范围。